嵌入式隨機存儲器測試研究及仿真.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計和制造技術(shù)的不斷進步，芯片的集成度和復(fù)雜度正按照摩爾定律的速度持續(xù)提高。尤其是超深亞微米(VDSM)工藝的使用，生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的故障也越來越多樣、難測。芯片測試遇到了前所未有的挑戰(zhàn)，已成為制約整個行業(yè)發(fā)展的瓶頸。在這種情況下，從故障類型、測試設(shè)備及測試成本考慮，可測性設(shè)計(DFT)技術(shù)成為解決芯片測試問題的主要手段之一，日益引起人們的重視。 論文主要針對嵌入式系統(tǒng)隨機存儲器的測試，研究解決辦法。首先，介紹了數(shù)字集

2、成電路和存儲器及測試技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀、趨勢。論述了存儲器的基本結(jié)構(gòu)、分類、故障模式和故障模型。然后，研究分析了存儲器測試的方法，產(chǎn)生測試圖形的各種測試生成算法，按圖形的測試長度與存儲單元大小關(guān)系分類舉例介紹。這些測試算法，復(fù)雜程度不同，故障覆蓋率也不同。詳細分析了March算法，并將其擴展成能面向字存儲器測試的算法。 內(nèi)建自測試(Built-In-Self-Tcst,BIST)技術(shù)被認為是解決由于電路集成度越來越大所造成的測試費用巨

3、大和測試訪問困難等問題的最有希望的技術(shù)。本文針對存儲器測試采用MBIST。MBIST是目前大規(guī)模存儲器測試最通用的方法，該方法將BIST邏輯電路嵌入芯片內(nèi)部，實現(xiàn)片上BIST結(jié)構(gòu)，本文實現(xiàn)了BIST電路的控制器、地址產(chǎn)生器、向量生成器、響應(yīng)分析器等電路，最終實現(xiàn)片上自動測試存儲器。本文采用VHDL程序仿真BIST結(jié)構(gòu)，并仿真一個隨機存儲器，將各種故障加入其中，采用March C算法，結(jié)果表明該方法能覆蓋多數(shù)故障，從而驗證基于March算