嵌入式存儲器的可測性設計及測試算法研究.pdf

1、隨著集成電路技術得到了飛速的發(fā)展，單一硅片上能夠集成上億個晶體管，這樣就使原來有多個芯片協(xié)作才能實現(xiàn)的復雜系統(tǒng)，通過單一芯片就可實現(xiàn)，即通常所說的片上系統(tǒng)(System on a Chip, SoC)。然而，片上系統(tǒng)的片內(nèi)晶體管的密集性，使其更容易在設計和生產(chǎn)過程中出現(xiàn)故障。嵌入式存儲器在片上系統(tǒng)中所占面積最大，使其與其他邏輯功能電路相比更容易出現(xiàn)故障，這使得對嵌入式存儲器的測試顯得尤為重要。本課題針對嵌入式存儲器的可測性結構和測試算法

2、進行了深入的研究。
　　本文對可測性設計基本概念及其分類進行了介紹和分析，對嵌入式存儲器的可測性設計進行了探討。此后，對嵌入式存儲器的結構，類型進行了詳細的介紹，并分析了存儲器的故障模型。在存儲器測試算法方面，本文主要對存儲器測試領域主流的March算法以及其衍生算法進行了介紹和分析，并對其進行了仿真驗證。針對嵌入式存儲器的可測性設計，本文應用March算法作為存儲器測試算法，設計了嵌入式存儲器內(nèi)建自測試電路結構，并在Models