質(zhì)子、氦對(duì)D、T彈性散射截面的測(cè)量研究.pdf_第1頁(yè)
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1、離子束分析技術(shù)是一種常規(guī)的材料表面分析的工具,具有無(wú)損、簡(jiǎn)便、精確等優(yōu)點(diǎn)。包括彈性背散射分析、前向彈性反沖分析和核反應(yīng)分析。
　　 本論文主要采用彈性背散射方法(EBS)和前向彈性反沖探測(cè)法(ERD)。
　　 分別在背散射角155°、165°處,采用Ti吸氘、氚的薄靶,對(duì)能量從1.4到3.4MeV的質(zhì)子的非盧瑟福彈性背散射截面D(P,P)D、T(P,P)T進(jìn)行了測(cè)量。質(zhì)子束由9SDH-2型2×3MV串列加速器提供,測(cè)量?jī)x

2、器采用金硅面壘探測(cè)能譜儀。實(shí)驗(yàn)誤差小于7.5％,將部分測(cè)量結(jié)果與前人發(fā)表的結(jié)果進(jìn)行了比較,符合得較好。
　　 用2.4～7.4MeV的-4He離子束轟擊Ti-D、Ti-T樣品,測(cè)量了在前向30°方向上的D(4He,D)4He、T(4He,T)4He的ERD截面。實(shí)驗(yàn)結(jié)果分別以列表形式和激發(fā)曲線(xiàn)形式給出,誤差小于8％。所測(cè)量的數(shù)據(jù)可供從事離子束分析技術(shù)的有關(guān)人員參考。
　　 最后,論文介紹了非盧瑟福背散射截面值的典型應(yīng)用,

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