TFT-LCD Mura缺陷檢測研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、Mura缺陷是TFT-LCD中一類常見的視覺缺陷，表現(xiàn)為低對比度、非均勻亮度區(qū)域，邊緣模糊，通常大于一個像素，會給觀察者帶來視覺不適。同時Mura缺陷也是視覺缺陷中最為復(fù)雜和最難檢測的，目前行業(yè)內(nèi)通常采用經(jīng)過專業(yè)訓(xùn)練的檢測人員根據(jù)限度樣本用人眼比對的方法進(jìn)行檢測，不可避免地引入主觀認(rèn)定等因素，容易產(chǎn)生不可靠的判定結(jié)果，且效率較低。 近年來，研究人員開始研究利用機(jī)器視覺來代替人眼檢測，但在檢測過程中如何高準(zhǔn)確率獲取Mura缺陷一直

2、是行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的難題之一，為此，本文在分析研究TFT-LCD Mura缺陷特征和規(guī)律基礎(chǔ)上，提出了基于B樣條曲面擬合來獲得Mura缺陷信息的方法，并依據(jù)該方法設(shè)計和搭建了Mura缺陷獲取系統(tǒng)，完成了相應(yīng)的軟硬件設(shè)計，通過對大量真實Mura缺陷樣本的檢測驗證了該方法和系統(tǒng)的有效性，能夠自動高效準(zhǔn)確地獲取Mura缺陷。 本論文的研究成果為最終實現(xiàn)用機(jī)器代替人完成Mura缺陷的檢測提供了一種有價值并有效的方法和路徑，同時，還可為其他FP

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