錫膏自動光學(xué)檢測中影像校正算法的研究.pdf

1、隨著電子產(chǎn)業(yè)工藝的進化，PCB板線路精細化、元件微型化的發(fā)展趨勢對傳統(tǒng)AOI提出了精度、速度上的挑戰(zhàn)。陣列影像架構(gòu)的的出現(xiàn)解決了速度精度問題，但由于本身結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性，其誤差校正存在很大難度。影像誤差校正的效果直接影響到后期的影像處理、缺陷分析等過程，決定了設(shè)備能否正常運行?，F(xiàn)階段的目標是設(shè)計一套完善的AOI影像校正算法，修正設(shè)備的影像誤差。
　　 AOI影像誤差分為色彩失真和幾何誤差，幾何誤差分為模組誤差、PCB整板誤差和溫度變

2、化造成的誤差。其中，模組成像系統(tǒng)本身，包括光源、鏡頭和CMOS芯片本身的缺陷導(dǎo)致影像的色彩失真，機構(gòu)誤差都導(dǎo)致影像的幾何誤差，陣列影像和搬送機構(gòu)是幾何誤差的主要來源。
　　 本文對AOI影像校正算法進行了研究：針對影像的各種誤差設(shè)計相應(yīng)的校正算法，然后應(yīng)用到AOI設(shè)備系統(tǒng)程序中，最后對每種校正算法實施線上實驗驗證并分析實驗結(jié)果。對于色彩失真，先利用標準RGB校正板統(tǒng)計色彩增益，然后對每張實拍影像進行色彩補償，幾何誤差則采用四點校