基于FPGA的數字IC時間參數測試技術研究.pdf

1、集成電路測試儀在集成電路的設計驗證、產品檢驗以及現(xiàn)場維護等各個階段都發(fā)揮著舉足輕重的作用，是保證集成電路的邏輯功能和動態(tài)參數指標符合技術要求的重要測試手段。本課題基于一種中小規(guī)模數字集成電路測試系統(tǒng)，研究了該系統(tǒng)中的時間參數測試板，完成集成電路動態(tài)特性的時間參數測試。
　　本課題針對數字集成電路時間參數測試的問題，以數字集成電路時間參數測試系統(tǒng)為主要的研究對象，在深入分析了數字集成電路時間參數測試原理和時間間隔測試原理的基礎上，對

2、數字集成電路時間參數測試方法和FPGA延遲線插值原理作了創(chuàng)新性和探索性研究。主要研究內容為：
　　1、分析了集成電路測試儀的發(fā)展狀況和趨勢，研究了常用數字集成電路測試儀時間參數測試的基本內容和測試方法，提出了本課題的測試方案。
　　2、完成系統(tǒng)硬件平臺的搭建。選用Altera公司的FPGA作為系統(tǒng)主控制器和協(xié)控制器。分析了系統(tǒng)硬件平臺的測量需求，采用ECL邏輯電平的高速比較器、數據選擇器和觸發(fā)器完成了采樣整形單元的設計。同時

3、，采用在FPGA芯片構建延遲線測量時間間隔的方法，完成系統(tǒng)時間間隔測量單元的硬件電路的設計，最高測試分辨力達到125ps。
　　3、完成了系統(tǒng)硬件FPGA邏輯和上層ARM9驅動程序的編寫。針對數字集成電路測試儀平臺和本課題時間參數測試板平臺，分析了FPGA邏輯設計的原理和方法，以及ARM9底層驅動程序的編寫方法和流程，完成了時間參數測量板整個硬件設計平臺的驅動程序的工作。
　　4、完成了系統(tǒng)硬件的動態(tài)性能的驗證工作。研究了幾