手機電磁兼容測試技術研究.pdf

1、現(xiàn)代科學技術的發(fā)展，電子設備的數(shù)量和種類不斷增加，這就使得電子設備所處的電磁環(huán)境日益復雜。同時，電子器件的集成度越來越高，電子設備抗干擾能力下降。因此，確保電子設備在復雜的電磁環(huán)境中正常工作，減少相互之間的電磁干擾十分重要，這對手機等電子產(chǎn)品的電磁兼容性提出了很高的要求。任何電氣電子設備在投放市場之前，電磁兼容性測試必不可少。
　　本文首先介紹電磁兼容發(fā)展的背景，電磁兼容干擾的途徑、分類，對測試場地、環(huán)境和設備要求等。然后針對手機

2、產(chǎn)品，本文從兩個方面檢測手機在使用過程中產(chǎn)生電磁輻射的指標，一個方面是電磁騷擾，另一個方面是電磁抗擾度。另外，對手機產(chǎn)品工作過程中對公共電網(wǎng)的影響和使用過程中對其他設備或電力系統(tǒng)干擾的抵抗能力進行了分析，闡述了通過半電波暗室測試法、全電波暗室測試法、峰值檢波法等方法來檢測手機的各項指標，使其指標符合國家標準的規(guī)范和要求。
　　對于手機類無線通訊產(chǎn)品，通過測試分析可以判定一款手機是否滿足標準和要求，判定在使用過程中產(chǎn)生的輻射指標是否